在聲束垂直試件表面時，所獲得的（）反射波高可能并不是可獲得的最大反射波高。

隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號的同時具備探傷、電導率測量（）測量功能的通用型儀器。

（）件對不同類型的檢測對象和要求，采用的方式各有不同。

渦流檢測輔助裝置的試樣傳動裝置在（）材生產(chǎn)線上的應用最為廣泛。

掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。

當波束中心線與缺陷面（）且回波最（）時，移動探頭使波束中心（），回波高度當隨之下降。

當缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）

采用以（）為橫坐標，以平底孔直徑標注各當量曲線作成實用AVG曲線。

用于測量黑光強度的現(xiàn)代黑光輻射照度計，其探頭（傳感器）的光敏組件的前面有（），只適用于測量黑光。

渦流檢測線圈是在被檢測導電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生（）