A、粗線端
B、細(xì)線端
C、中部
D、可隨意放
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A、放置一只
B、在180°象限內(nèi)各放1只
C、至少均勻放3只
D、根據(jù)黑度要求而定
A、俘獲燈絲發(fā)射的雜散電子
B、限制燈絲電流的最大安培值;
C、減少靶散射的二次電子在玻璃管壁上產(chǎn)生的負(fù)電荷
D、與負(fù)電位相接
A、倍壓電路
B、半波自整流電路
C、全波整流電路
D、以上都不是
A、靜電加速器
B、加旋加速器
C、直線加速器
D、以上都是
A、一個(gè)變數(shù)
B、一個(gè)常數(shù)
C、在某一黑度范圍是常數(shù)
D、以上都不是
最新試題
渦流檢測(cè)中的對(duì)比試樣的()和材質(zhì)相對(duì)被檢測(cè)產(chǎn)品必須具有代表性。
根據(jù)檢測(cè)對(duì)象和目的的不同,渦流檢測(cè)儀器一般可分為()、渦流電導(dǎo)儀和渦流測(cè)厚儀三種。
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。
當(dāng)波束中心線與缺陷面()且回波最()時(shí),移動(dòng)探頭使波束中心(),回波高度當(dāng)隨之下降。
()件對(duì)不同類型的檢測(cè)對(duì)象和要求,采用的方式各有不同。
特性是指實(shí)體所特有的性質(zhì),它反映子實(shí)體滿足需要的()
對(duì)于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動(dòng),即可獲得缺陷的()所在的位置,從而定出缺陷的平面位置。
采用以()為橫坐標(biāo),以平底孔直徑標(biāo)注各當(dāng)量曲線作成實(shí)用AVG曲線。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的()具有較好的代表性,因此在在役管材的渦流檢測(cè)中較多采用。