單項選擇題曝光過程中，試樣或膠片偶然移動或使用焦距變?。ǎ?/strong>
A、產(chǎn)生射線照相底片對比度低
B、不可能檢出大缺陷
C、產(chǎn)生射線照相底片不清晰
D、產(chǎn)生發(fā)灰的射線照片
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1.單項選擇題未曝光膠片儲存的最佳濕度要求是（）。
A、35%～-60%之間
B、60%～90%之間
C、50%～75%之間
D、50%～60%之間
2.單項選擇題膠片與鉛箔增感屏一起放在暗盒中的時間過長，又曾處在高溫或高濕環(huán)境中，膠片可能（）。
A、產(chǎn)生白色斑點
B、出現(xiàn)樹枝狀的輕微條痕
C、發(fā)生灰霧
D、藥膜脫落
3.單項選擇題未曝光的X射線膠片盒保存時應(yīng)（）。
A、平放
B、直立
C、堆放
D、任意放置
4.單項選擇題曝光過程中，與X射線膠片緊密接觸的鉛增感屏可提高底片黑度，其原因是（）。
A、鉛增感屏?xí)a(chǎn)生可見光和熒光
B、鉛屏可吸收散射線
C、防止背散射造成膠片灰霧
D、鉛屏受X射線和γ射線照射會發(fā)生二次電子
5.單項選擇題鉛增感屏鉛箔局部剝落，底片上表現(xiàn)為（）。
A、較黑斑塊顯示
B、較白斑塊顯示
C、無顯示
D、以上任何一種
最新試題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）
題型：單項選擇題
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束（），保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。
題型：單項選擇題
缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。
題型：單項選擇題
磁性測厚技術(shù)包括機械式和（）兩種測量方法。
題型：單項選擇題
無損探傷檢測采用的黑光燈和濾光片的作用是使其輻射波長范圍為（）mm，峰值波長為365mm。
題型：單項選擇題
直接射向缺陷的波就是（）
題型：單項選擇題
對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。
題型：單項選擇題
根據(jù)檢測對象和目的的不同，渦流檢測儀器一般可分為（）、渦流電導(dǎo)儀和渦流測厚儀三種。
題型：單項選擇題
波束截面中心聲能（），隨著與中心的距離的增大，聲能（）
題型：單項選擇題
各類渦流檢測儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。
題型：單項選擇題