缺陷檢測即通常所說的渦流探傷主要影響因素包括（）、電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、邊條效應(yīng)、提離效應(yīng)等。

對于長條形試件，則常沿（）作平行縱軸的直線式掃查。

渦流檢測線圈感應(yīng)和接收材料或零件中感生渦流的再生磁場的傳感器，它是構(gòu)成（）系統(tǒng)的重要組成部分，對于檢測結(jié)果的好壞起著重要的作用。

對檢測儀的時間基線進行校正后，缺陷的埋藏深度可從熒光屏的（）上讀出。

渦流檢測線圈是在被檢測導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵產(chǎn)生（）

渦流檢測線圈的自感式線圈由（）構(gòu)成。

缺陷愈大，所遮擋的聲束也愈多，底波波高也就愈低，這就有可能用缺陷波高與底波波高之比來表示缺陷的（）

對于接觸法只須將能使缺陷落在其遠(yuǎn)場區(qū)內(nèi)的縱波直探頭在試件表面移動，即可獲得缺陷的（）所在的位置，從而定出缺陷的平面位置。

當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時，如果聲束軸線移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時波高的（）

對于圓盤形試件，常沿（）在圓面上進行掃查。