A、光電效應(yīng)
B、康普頓效應(yīng)
C、湯姆遜效應(yīng)
D、電子對(duì)生成效應(yīng)
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、hvεj
B、hv.εj
C、hv》εj
D、hv.1.02Mev
A、數(shù)量
B、尺寸
C、能量
D、重量
A、特征X射線(xiàn)
B、示性X射線(xiàn)
C、熒光輻射
D、以上都對(duì)
A、本征X射線(xiàn)
B、示性X射線(xiàn)
C、標(biāo)識(shí)X射線(xiàn)
D、連續(xù)X射線(xiàn)
A、本征X射線(xiàn)
B、示性X射線(xiàn)
C、標(biāo)識(shí)X射線(xiàn)
D、以上都是
最新試題
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置在（）材生產(chǎn)線(xiàn)上的應(yīng)用最為廣泛。
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展，出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量（）測(cè)量功能的通用型儀器。
渦流檢測(cè)輔助裝置的試樣傳動(dòng)裝置用于形狀規(guī)則產(chǎn)品的（）
渦流檢測(cè)線(xiàn)圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生（）
渦流探傷中平底盲孔缺陷對(duì)于管壁的（）具有較好的代表性，因此在在役管材的渦流檢測(cè)中較多采用。
各類(lèi)渦流檢測(cè)儀器的（）和結(jié)構(gòu)各不相同。
對(duì)于圓盤(pán)形試件，常沿（）在圓面上進(jìn)行掃查。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí)，如果聲束軸線(xiàn)移到缺陷邊緣，缺陷波高約為聲束軸線(xiàn)在缺陷中部時(shí)波高的（）
當(dāng)波束中心線(xiàn)與缺陷面（）且回波最（）時(shí)，移動(dòng)探頭使波束中心（），回波高度當(dāng)隨之下降。
當(dāng)波束不再與缺陷相遇，則回波（）