A、本征X射線(xiàn)
B、示性X射線(xiàn)
C、標(biāo)識(shí)X射線(xiàn)
D、以上都是
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A、中子
B、分子
C、光子
D、光子、中子
A、1.6726×10-24克
B、3.167×10-27克
C、9.109×10-31克
D、5.478×10-24克
A、像質(zhì)計(jì)
B、膠片
C、評(píng)定尺
D、增感屏
A、報(bào)警電路
B、接收電路
C、同步電路
D、時(shí)基電路
A、鍛件
B、棒坯
C、鑄錠
D、薄板
最新試題
渦流檢測(cè)線(xiàn)圈是在被檢測(cè)導(dǎo)電材料或零件表面及近表面激勵(lì)產(chǎn)生()
對(duì)檢測(cè)儀的時(shí)間基線(xiàn)進(jìn)行校正后,缺陷的埋藏深度可從熒光屏的()上讀出。
各類(lèi)渦流檢測(cè)儀器的()和結(jié)構(gòu)各不相同。
磁性測(cè)厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測(cè)量方法。
鑄件超聲檢測(cè)的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
鋁合金電導(dǎo)率的渦流檢測(cè)中硬度檢驗(yàn)是一種()方法。
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線(xiàn)移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線(xiàn)在缺陷中部時(shí)波高的()
渦流檢測(cè)線(xiàn)圈的自感式線(xiàn)圈由()構(gòu)成。
對(duì)于圓盤(pán)形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
隨著渦流檢側(cè)儀器制造技術(shù)的發(fā)展,出現(xiàn)了多種型號(hào)的同時(shí)具備探傷、電導(dǎo)率測(cè)量()測(cè)量功能的通用型儀器。