A、采用當(dāng)量試塊比較法測定的結(jié)果 B、對(duì)大于聲束的缺陷,采用底波對(duì)比而測得的結(jié)果 C、根據(jù)缺陷反射波高和探頭移動(dòng)的距離而測得的結(jié)果 D、缺陷定量法之一,和AVG曲線的原理相同
A、窄脈沖 B、衰減 C、波型轉(zhuǎn)換 D、粗晶
A、底面反射 B、表面反射 C、缺陷反射 D、雜波