A、正壓電效應(yīng)
B、逆壓電效應(yīng)
C、壓電常數(shù)
D、介電常數(shù)
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A、1/2波長的整數(shù)倍時(shí)
B、1/2波長的奇數(shù)倍時(shí)
C、1/4波長的奇數(shù)倍時(shí)
D、1/4波長的整數(shù)倍時(shí)
A、tp=1+rp
B、R=rp2
C、D=1-rp2
D、以上都不對
A、(Z2-Z1)/(Z1+Z2)
B、2Z2/(Z1+Z2)
C、4Z1×Z2/(Z1+Z2)2
D、[(Z2-Z1)/(Z1+Z2)]2
A、1/2波長的整數(shù)倍時(shí)
B、1/2波長的奇數(shù)倍時(shí)
C、1/4波長的奇數(shù)倍時(shí)
D、1/4波長的整數(shù)倍時(shí)
A、底波被較大的面積性缺陷反射
B、底波被較小的單個(gè)球狀缺陷反射
C、底波的能量被轉(zhuǎn)換為電能而吸收
D、以上都可能
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最新試題
當(dāng)缺陷面積大于聲束截面時(shí),如果聲束軸線移到缺陷邊緣,缺陷波高約為聲束軸線在缺陷中部時(shí)波高的()
磁性測厚技術(shù)包括機(jī)械式和()兩種測量方法。
渦流檢測線圈的自感式線圈由()構(gòu)成。
鑄件超聲檢測的特點(diǎn)是常采用低頻聲被以減輕衰減和散射,相應(yīng)的可檢缺陷尺寸()
用于測量黑光強(qiáng)度的現(xiàn)代黑光輻射照度計(jì),其探頭(傳感器)的光敏組件的前面有(),只適用于測量黑光。
對于圓盤形試件,常沿()在圓面上進(jìn)行掃查。
渦流檢測中的對比試樣的()和材質(zhì)相對被檢測產(chǎn)品必須具有代表性。
波束截面中心聲能(),隨著與中心的距離的增大,聲能()
()件對不同類型的檢測對象和要求,采用的方式各有不同。
掃描儀器的掃查的間距通常根據(jù)探頭的最小聲束(),保證兩次掃查之間有一定比例的覆蓋。