A.鹽酸
B.磷酸
C.鈉
D.鎂
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A.光電池
B.熱導(dǎo)池
C.熱電偶
D.光電倍增管
A.直流放大
B.交流放大
C.扣除背景
D.數(shù)字顯示
A.光譜線重疊的干擾
B.化學(xué)干擾
C.背景干擾
D.物理干擾
A.自然寬度
B.赫魯茲馬克變寬
C.斯塔克變寬
D.多普勒變寬
A.輻射的吸收
B.輻射的發(fā)射
C.輻射的散射
D.輻射的折射
最新試題
X射線熒光光譜法玻璃熔片法測(cè)量爐渣時(shí),可以使用純氧化物配比建立工作曲線。
直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn),凝聚放電是好的,擴(kuò)散放電是不好的。
直讀光譜分析中,電極與試樣的距離對(duì)分析結(jié)果有影響。
從ICP-AES干擾原理出發(fā),使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。
高頻感應(yīng)紅外線吸收法測(cè)定鎢鐵中碳硫含量,氧氣源發(fā)生改變時(shí),應(yīng)重新對(duì)工作曲線進(jìn)行校正。
紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對(duì)二氧化硫的檢測(cè)。
原子吸收光譜法測(cè)定被測(cè)元素,為了保證數(shù)據(jù)能夠上傳,必須將樣品編號(hào)輸完整。
火花源原子發(fā)射光譜分析儀的聚光鏡在分光室與激發(fā)電極架之間。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
X射線熒光光譜儀長(zhǎng)時(shí)間停用后,可以直接調(diào)整電壓和電流至工作電壓和電流。