A.平行于探測(cè)面的缺陷 B.與探測(cè)面傾斜的缺陷 C.垂直于探測(cè)面的缺陷 D.不能用斜探頭檢測(cè)的缺陷
A.工件中有小而密集的缺陷 B.工件中有局部晶粒粗大區(qū)域 C.工件中有疏松缺陷 D.以上都有可能
A.反射率高,波幅高,探頭左右移動(dòng)時(shí)波形穩(wěn)定 B.從焊縫兩側(cè)檢測(cè)時(shí),反射波高大致相當(dāng) C.當(dāng)探頭做定點(diǎn)轉(zhuǎn)動(dòng)時(shí),波幅高度下降速度較快 D.以上全部