A.水基類
B.甘油類
C.硅基類
D.堿性類
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A.堿性類
B.甘油類
C.硅基類
D.以上都不適用
A.根據(jù)探測范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以一次底回波設(shè)定
B.根據(jù)探測范圍選擇適當(dāng)厚度的試塊,以兩次以上底
C.可以按被檢材料聲速設(shè)定,而不需要使用試塊
D.以上都可以
A.可以利用被檢件底面回波調(diào)整時基線;
B.利用兩次或兩次以上回波作為基準(zhǔn)回波;
C.調(diào)整時,應(yīng)同時校正零位;
D.以上都是。
A.已知厚度的大平底零件
B.標(biāo)準(zhǔn)試塊
C.對比試塊
D.以上都可以
A.20mm
B.50mm
C.100mm
D.200mm
最新試題
移動探頭找到缺陷最大回波,沿缺陷方向左右移動探頭,缺陷回波高度降低一半時,探頭中心軸線所對應(yīng)的位置即為指示長度的端點(diǎn),兩端點(diǎn)之間的直線長度即為缺陷指示長度。這種測長方法稱為()。
直接接觸法是指探頭與工件之間()。
()是指在確定的聲程范圍內(nèi)檢測出規(guī)定大小缺陷的能力,一般根據(jù)產(chǎn)品技術(shù)要求或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)來確定。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
底波計算法是利用()與平底孔反射回波相差的分貝(dB)值進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)。
()是影響缺陷定量的因素。
調(diào)節(jié)時基線時,應(yīng)使()同時對準(zhǔn)相應(yīng)的聲程位置。
利用底波計算法進(jìn)行靈敏度校準(zhǔn)時,適用的工件厚度為()。
缺陷的定量包括缺陷大小和數(shù)量的確定,而缺陷的大小可由缺陷的面積或()來表征。
靈敏度采用試塊調(diào)節(jié)法,下面說法錯誤的是()。