A.掃場下的高場和掃頻下的高頻,較小的化學(xué)位移值(δ)
B.掃場下的高場和掃頻下的低頻,較小的化學(xué)位移值(δ)
C.掃場下的低場和掃頻下的高頻,較大的化學(xué)位移值(δ)
D.掃場下的低場和掃頻下的低頻,較大的化學(xué)位移值(δ)
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你可能感興趣的試題
A.吸收電磁輻射的頻率區(qū)域不同
B.檢測信號的方式不同
C.記錄譜圖的方式不同
D.樣品必須在強(qiáng)磁場中測定
A.N7
B.Si14
C.P15
D.S16
A.不同質(zhì)子種類數(shù)
B.同類質(zhì)子個(gè)數(shù)
C.化合物中雙鍵的個(gè)數(shù)與位置
D.相鄰碳原子上質(zhì)子的個(gè)數(shù)
A.(CH3)2CHCOCH3
B.(CH3)3C-CHO
C.CH3CH2CH2COCH3
D.CH3CH2COCH2CH3
A.質(zhì)荷比
B.波數(shù)
C.化學(xué)位移
D.保留值
最新試題
ICP-AES法測量分析試樣時(shí),所選擇的光譜分析線是()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
使用CS600測定純鐵中超低碳硫含量,控制分析空白是關(guān)鍵。
LZ50中氧氮含量的測定,分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來水源。
管式爐紅外線吸收法測定煤中硫含量,根據(jù)朗伯-比爾定律即可求出煤樣中的硫含量。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
鋼鐵中以下元素能夠使用紅外線吸收法測量的是()。
氧氮分析儀同碳硫分析儀一樣,都是采用加熱方式來分解試樣,所以也使用氧氣作載氣。
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。