A.化合物中不同質(zhì)子的種類數(shù)
B.同種類H的數(shù)目
C.相鄰碳上質(zhì)子的數(shù)目
D.化合物中雙鍵的個(gè)數(shù)及位置
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A.屏蔽效應(yīng)較弱,相對(duì)化學(xué)位移較大,共振峰出現(xiàn)在高場(chǎng)
B.屏蔽效應(yīng)較強(qiáng),相對(duì)化學(xué)位移較小,共振峰出現(xiàn)在高場(chǎng)
C.屏蔽效應(yīng)較強(qiáng),相對(duì)化學(xué)位移較大,共振峰出現(xiàn)在低場(chǎng)
D.屏蔽效應(yīng)較強(qiáng),相對(duì)化學(xué)位移較大,共振峰出現(xiàn)在高場(chǎng)
A.掃頻下的高頻,掃場(chǎng)下的高場(chǎng),化學(xué)位移δ值較小
B.掃頻下的高頻,掃場(chǎng)下的低場(chǎng),化學(xué)位移δ值較大
C、掃頻下的低頻,掃場(chǎng)下的高場(chǎng),化學(xué)位移δ值較大
D、掃頻下的低頻,掃場(chǎng)下的高場(chǎng),化學(xué)位移δ值較小
A.化學(xué)位移
B.偶合常數(shù)
C.偶合裂分?jǐn)?shù)
A.質(zhì)荷比
B.波數(shù)
C.偶合常數(shù)
D.保留值
A.I=1/2
B.I=0
C.I=1
D.I>1
最新試題
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼頇z測(cè)的。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
原子吸收光譜儀在使用氧化亞氮火焰時(shí),儀器應(yīng)具備防回火功能。
原子吸收光譜測(cè)量的結(jié)果,只要線性好,平行好,結(jié)果準(zhǔn)確度就高。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
在高頻感應(yīng)紅外碳硫分析儀中,可以作為氧化催化劑的試劑有()。
ICP-AES法中檢出限高低取決于()。
使用CS600測(cè)定純鐵中超低碳硫含量,控制分析空白是關(guān)鍵。
紅外吸收法分析碳和硫時(shí),可以用同一個(gè)紅外池來檢測(cè)。