A.分子中電子能級(jí)躍遷
B.轉(zhuǎn)動(dòng)能級(jí)躍遷
C.振動(dòng)能級(jí)躍遷
D.原子最外層電子躍遷
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A.中心頻率和譜線半寬度
B.峰高和譜線半寬度
C.特征頻率和峰值吸收系數(shù)
D.基態(tài)原子
A.待測(cè)原子與同類原子的碰撞引起譜線中心頻率發(fā)生位移
B.待測(cè)原子與其原子的碰撞引起譜線變寬
C.待測(cè)原子的熱運(yùn)動(dòng)引起譜線變寬
D.待測(cè)原子受到同位素原子的影響引起譜線中心頻率發(fā)生位移
A.原子的熱運(yùn)動(dòng)
B.原子與其他粒子的碰撞
C.原子與同類原子的碰撞
D.外部電場(chǎng)對(duì)原子的影響
A.波長和激發(fā)電位都應(yīng)接近
B.波長和激發(fā)電位都不一定接近
C.波長要接近,激發(fā)電位可以不接近
D.波長不一定接近,但激發(fā)電位要相近
A.I-N基
B.ΔS-lgc
C.I-lgc
D.S-lgN基
最新試題
ICP中等離子體環(huán)狀結(jié)構(gòu)形成的原因是()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
X射線熒光光譜玻璃熔片法采用的鉑金坩堝Pt與Au的比例一般是()。
ICP光譜儀中的等離子炬管有三種氣體通過,它們分別是()。
紅外吸收法分析碳和硫時(shí),可以用同一個(gè)紅外池來檢測(cè)。
高純鐵中超低碳硫含量的紅外線吸收法測(cè)定過程中,陶瓷坩堝拆裝后即可立即使用,無需任何預(yù)處理。
ICP-AES法測(cè)量分析試樣時(shí),所選擇的光譜分析線是()。
氧氮分析儀測(cè)氮時(shí),是通過紅外池檢測(cè)試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼頇z測(cè)的。
在高頻感應(yīng)紅外碳硫分析儀中,可以作為氧化催化劑的試劑有()。
使用CS600測(cè)定純鐵中超低碳硫含量,控制分析空白是關(guān)鍵。