多項(xiàng)選擇題衍射時(shí)差法的主要優(yōu)點(diǎn)是（）
A.衍射信號(hào)與缺陷的方向無(wú)關(guān)
B.缺陷檢出率高
C.超聲波束覆蓋區(qū)域大
D.缺陷高度測(cè)量精確
E.實(shí)時(shí)成像快速分析
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1.多項(xiàng)選擇題根據(jù)缺陷相對(duì)聲壓反射率及其分貝差，可以進(jìn)行（）
A.確定缺陷當(dāng)量大小
B.計(jì)算靈敏度調(diào)節(jié)量
C.孔形換算
D.制作AVG曲線
E.確定缺陷形狀
2.多項(xiàng)選擇題從規(guī)則反射體聲壓計(jì)算公式可知，返回晶片的聲壓大小與入射聲壓和反射體的（）有關(guān)。
A.表面狀態(tài)
B.形狀
C.缺陷位置
D.缺陷取向
E.尺寸
最新試題
超聲波檢測(cè)中如果被檢工件衰減嚴(yán)重，定量會(huì)受到影響。
題型：判斷題
無(wú)論聲波相對(duì)于缺陷是垂直入射還是斜入射，缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
題型：判斷題
儀器時(shí)基線比例一般在試塊上調(diào)節(jié)，當(dāng)工件與試塊的聲速不同時(shí)，儀器的時(shí)基線比例發(fā)生變化，影響缺陷定位精度。
題型：判斷題
儀器時(shí)基線調(diào)節(jié)比例時(shí)，若回波前沿沒(méi)有對(duì)準(zhǔn)相應(yīng)垂直刻度或讀數(shù)不準(zhǔn)，會(huì)使缺陷定位誤差增加。
題型：判斷題
為了減少側(cè)壁的影響，必要時(shí)可采用試塊比較法進(jìn)行定量，以便提高定量精度。
題型：判斷題