下列關(guān)于IIW試塊的說法，正確的是（）

關(guān)于圓晶片輻射的超聲波，下列說法正確的是（）（S為傳播距離，N為近場長度）。

直射法探傷時(shí)試件的探測面應(yīng)選在與缺陷最大表面（）

下列磁化方法中容易計(jì)算工件表面磁場強(qiáng)度的是（）

底片干燥時(shí)，一般不得超過60℃，是因?yàn)椋ǎ?/p>

散射比的大小與（）因素有關(guān)。

射線經(jīng)過一個(gè)半價(jià)層后，其（）衰減一半。

化學(xué)清洗用于去除工件表面的（）

小口徑管道射線探傷時(shí)常采用（）方法透照。

在射線照相時(shí)，像質(zhì)計(jì)應(yīng)放置在（）