填空題X熒光分析基體的影響可分兩大類,一類是()引起的,另一類是(),表面結(jié)構(gòu)等造成的。
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紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對二氧化硫的檢測。
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直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。
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高頻感應(yīng)紅外線吸收法測定鎢鐵中碳硫含量,氧氣源發(fā)生改變時,應(yīng)重新對工作曲線進(jìn)行校正。
題型:判斷題
原子熒光儀外表面可用濕抹布擦拭,但應(yīng)斷電,防止短路。
題型:判斷題
ICP矩焰形成通稱點火,和火焰原子吸收法一樣,都是把工作氣體點燃,形成高溫的火焰。
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原子吸收光譜法測定被測元素,為了保證數(shù)據(jù)能夠上傳,必須將樣品編號輸完整。
題型:判斷題
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計。
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紅外碳硫儀中的紅外檢測池具有單一性,各紅外池間不可互相代用。
題型:判斷題
直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點,凝聚放電是好的,擴(kuò)散放電是不好的。
題型:判斷題
在原子熒光光譜分析中,同種元素銳線光源有利于共振熒光的激發(fā)。
題型:判斷題