A、20kv/10mA20kv/20mA20kv/30mA20kv/40mA20kv/50mA30kv/50mA40kv/50mA50kv/50mA
B、20kv/10mA30kv/10mA40kv/10mA50kv/10mA50kv/20mA50kv/30mA50kv/40mA50kv/50mA
C、20kv/10mA30kv/10mA40kv/10mA50kv/10mA50kv/50mA
D、20kv/10mA20kv/20mA20kv/30mA20kv/40mA20kv/50mA50kv/50mA
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
A、LiF200使用40.45°
B、PX1使用30.69°
C、Ge使用144.86°
D、LiF220使用58.53°
A、LiF220
B、LiF200
C、Ge111
D、PE002
A、柳鋼現(xiàn)在使用的X熒光光譜儀共有三種準(zhǔn)直器,分別是150μm、300μm、700μm的準(zhǔn)直器。
B、改變準(zhǔn)直器,可以改變分辨率,改變X熒光的強(qiáng)度。
C、使用150μm的準(zhǔn)直器比使用300μm的準(zhǔn)直器分辨率要低。
D、使用準(zhǔn)直器可以獲得平行光。
A、關(guān)閉高壓、放真空、啟動TCM軟件、選擇第二項(xiàng)M、按F1關(guān)閉cap、按F3使Plunger向下,再按F1打開cap。
B、放真空、關(guān)閉高壓、啟動TCM軟件、選擇第二項(xiàng)M、按F1關(guān)閉cap、按F3使Plunger向下,再按F1打開cap。
C、放真空、關(guān)閉高壓、啟動TCM軟件、選擇第二項(xiàng)M、按F1關(guān)閉cap、按F2使Plunger向下,再按F1打開cap。
D、關(guān)閉高壓、放真空、啟動TCM軟件、選擇第二項(xiàng)M、按F1關(guān)閉cap、按F3使Plunger向下,再按F1打開cap。
A、SK與MoL沒有干擾
B、FeK(IV)與SiK沒有干擾;
C、PbL與AsK沒有干擾
D、AsK與PbL沒有干擾
![](https://static.ppkao.com/ppmg/img/appqrcode.png)
最新試題
紅外吸收碳硫儀中有高、低量程的紅外池,高量程的池體短,相應(yīng)紅外光程短。
LZ50中氧氮含量的測定,分析儀器需要配備外循環(huán)冷卻水器或自來水源。
X射線熒光光譜分析中,分光晶體對溫度的變化比較敏感,一般要求晶體室溫度變化在()度內(nèi)。
ICP-AES方法與ICP-MS相比具有的缺點(diǎn)是()。
原子熒光光譜法制作工作曲線時,相關(guān)系數(shù)應(yīng)至少達(dá)到()。
玻璃熔融-X熒光光譜法,采用的熔融法存在缺點(diǎn)是()。
在高頻感應(yīng)紅外碳硫分析儀中,可以作為氧化催化劑的試劑有()。
直讀光譜分析鐵水試樣時,鐵水試樣必須白口化。
氧氮分析儀測氮時,是通過紅外池檢測試樣熔融后釋放出的氮?dú)饬縼頇z測的。
ICP光譜儀中石英炬管清洗時用的酸是()。