A、化學(xué)干擾和電場(chǎng)干擾
B、光譜干擾和非光譜干擾
C、粒子干擾和電磁干擾
D、電磁干擾和輻射干擾
您可能感興趣的試卷
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A、最大
B、較小
C、最小
D、較大
A、測(cè)出分析線對(duì)的強(qiáng)度
B、找出被測(cè)元素的最后線
C、選定分析線對(duì)
D、譜線的高度
A、可燃性
B、惰性
C、助燃性
D、自然性
A、HVPS→電子裝置電源→水泵電源→真空泵電源→主電源→計(jì)算機(jī)；
B、主電源→電子裝置電源→水泵電源→真空泵電源→HVPS→計(jì)算機(jī)；
C、計(jì)算機(jī)→HVPS→電子裝置電源→水泵電源→真空泵電源→主電源；
D、HVPS→主電源→水泵電源→電子裝置電源→真空泵電源→計(jì)算機(jī)；
A、Read instrumentstatus
B、Status Reporter
C、Intrgrated Profile
D、Reset Instrument
最新試題
X射線熒光光譜分析中，分光晶體對(duì)溫度的變化比較敏感，一般要求晶體室溫度變化在（）度內(nèi)。
在高頻感應(yīng)紅外碳硫分析儀中，可以作為氧化催化劑的試劑有（）。
管式爐紅外線吸收法測(cè)定煤中硫含量，根據(jù)朗伯-比爾定律即可求出煤樣中的硫含量。
紅外吸收法分析碳和硫時(shí)，可以用同一個(gè)紅外池來(lái)檢測(cè)。
ICP所用的氣動(dòng)霧化器有三種基本類(lèi)型，它們分別是（）。
選用ICP-AES儀器，同時(shí)可以進(jìn)行（）。
直讀光譜分析鐵水試樣時(shí)，鐵水試樣必須白口化。
使用CS600測(cè)定純鐵中超低碳硫含量，控制分析空白是關(guān)鍵。
ICP-AES光源分為四個(gè)區(qū)域，即（）。
ICP-AES法中檢出限高低取決于（）。