光由折射率為n1的光密介質(zhì)射向折射率為n2的光疏介質(zhì)時(shí)（n1＞n2），臨界角的正弦值為（）。

目前用OTDR測量單模光纖，最常用的測試波長是（）。

局內(nèi)光纜有兩種程式，一種是（）；另一種是（）。

OTDR監(jiān)測光纖熔接損耗的三種主要方式是（）、（）和（）。

凡是影響到光纜線路通信質(zhì)量的內(nèi)在或外在的各種因素均稱為（）。根據(jù)隱患的性質(zhì)可將隱患分為（）和（）兩種。

單盤測試中，光特性參數(shù)包括（）、（）和（）。

光纖的兩個(gè)主要傳輸特性分別是（）和（），它們決定光纖通信系統(tǒng)的（）和（）。

光纖的熔接操作一般分為光纖端面的制備、（）和（）三個(gè)步驟。

造成光纜線路障礙的原因大致可分為外力因素、（）、（）、光纜自身缺陷等四大類。

路由復(fù)測是以（）為依據(jù)，復(fù)核光纜路由的（）、敷設(shè)條件、預(yù)留位置、敷設(shè)環(huán)境以及（）的具體位置，復(fù)測路由的地面長度等，為光纜的配盤、分屯以及敷設(shè)提供必要的條件。