橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式3有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷?()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
您可能感興趣的試卷
你可能感興趣的試題
橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式2有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷排列方式1有利于檢測以下哪種內(nèi)部缺陷()
A.平行于聲入射方向的面積缺陷
B.平行于聲入射面的面積缺陷
C.垂直于聲入射方向的面積缺陷
D.垂直于聲入射面的面積缺陷
是橫波雙探頭檢測技術(shù)的典型排列方式,試從圖中判斷哪種排列方式適宜檢測平行于聲入射面的內(nèi)部缺陷
()
A.方式1
B.方式2
C.方式3
D.以上方式都可以
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R50圓弧面時的示意圖。如果按1:2聲程調(diào)整的話(入射點(diǎn)對‘0’,滿刻度200),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50、100、200
B.50、125、200
C.50、75、200
D.50、100、150、200
圖是利用IIW-II試塊調(diào)整橫波聲程時基線,探頭聲束對準(zhǔn)R50圓弧面時的示意圖。如果按1:1聲程調(diào)整的話(入射點(diǎn)對‘0’,滿刻度100),熒光屏上出現(xiàn)的各反射波的位置應(yīng)是以下哪種情況()
A.50
B.50、100
C.50、75、100
D.以上都可能
![](https://static.ppkao.com/ppmg/img/appqrcode.png)
最新試題
超聲檢測對缺陷定位時,()不是影響缺陷定位的主要因素。
探頭延檢測面水平移動,超聲檢測系統(tǒng)區(qū)分兩個相鄰缺陷的能量稱為()。
()和底波高度法一般用于缺陷尺寸小于聲束截面的缺陷定量。
()主要用于表面光滑工件的表面和近表面缺陷檢測。
超聲檢測儀盲區(qū)是指()。
當(dāng)調(diào)節(jié)檢測靈敏度用的試塊與工件()、曲率半徑不同或材質(zhì)衰減不同時,需要進(jìn)行傳輸修正。
縱波直探頭徑向檢測實(shí)心圓柱時,在第一次底波之后,還有2個特定位置的反射波,這種波是()。
板波檢測可以發(fā)現(xiàn)(),其檢出靈敏度與儀器設(shè)備及波的形式有關(guān)。
當(dāng)超聲波到達(dá)工件的臺階、螺紋等輪廓時將引起反射,這種波是()。
底波高度法不用試塊,可以直接利用底波調(diào)節(jié)靈敏度和比較缺陷的相對大小,操作方便,適用于()的工件。