A.硒鼓檢測器 B.IP成像轉(zhuǎn)換器 C.直接轉(zhuǎn)換平板探測器 D.間接轉(zhuǎn)換平板探測器 E.多絲正比室檢測器
A.有直接轉(zhuǎn)換型和間接轉(zhuǎn)換型 B.其極限分辨率比屏/片系統(tǒng)低 C.其MTF、比屏/片系統(tǒng)低 D.其DQE比屏/片系統(tǒng)高 E.DQE比CR系統(tǒng)高
A.IP由基層、熒光體層和保護層構(gòu)成 B.IP由基層、晶體層構(gòu)成 C.IP用于檢測圖像數(shù)據(jù) D.IP用于存儲圖像數(shù)據(jù) E.IP用于傳輸圖像數(shù)據(jù)