A.探測(cè)器模塊中各晶體單元的切割均勻一致 B.晶體厚,則能量分辨率提高,靈敏度下降 C.晶體單元的表面面積小,則靈敏度提高,空間分辨率下降 D.探測(cè)器環(huán)的直徑?jīng)Q定了系統(tǒng)的軸向視野的大小 E.同一環(huán)中探測(cè)器模塊數(shù)量越多,系統(tǒng)的斷層分辨率越高
A.符合窗內(nèi)探測(cè)到的兩個(gè)光子,一定來(lái)自同一湮滅事件 B.符合窗外探測(cè)到的兩個(gè)光子,一定不是來(lái)自同一湮滅事件 C.真符合得到的湮滅事件的定位是錯(cuò)誤的 D.散射符合探測(cè)到兩個(gè)光子來(lái)源于同一湮滅事件 E.隨機(jī)符合增加了圖像的信噪比
A.對(duì)于無(wú)CT的SPECT,圖像重建時(shí)一般未進(jìn)行衰減校正 B.在采集圖像前進(jìn)行的衰減校正稱(chēng)前校正 C.后校正法包括幾何平均法和算術(shù)平均法 D.幾何平均法和算術(shù)平均法只適用于泛源的情況 E.散射的影響使實(shí)測(cè)的衰減系數(shù)比良好幾何條件下的衰減系數(shù)小