問答題
圖(a)為檢查塊規(guī)的裝置,G0為標準塊規(guī),G為上表面待測的塊規(guī),以波長為λ的平行單色光垂直入射,測得塊規(guī)與平晶之間的空氣尖劈所形成的干涉條紋如圖(b),對應(yīng)于G0和G的條紋間距分別為l0和l,且l
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