A.CSK-ⅠA
B.CSK-ⅢA
C.CBⅡ
D.CS-2
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A.水平線性、垂直線性、衰減器精度
B.靈敏度余量、水平線性、組合頻率
C.動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力
D.垂直線性、水平線性、重復(fù)頻率
A.信噪比
B.盲區(qū)
C.分辨率
D.靈敏度
A.縱波入射角的正切值,即K=tanαL
B.縱波入射角的正弦值,即K=sinαL
C.橫波折射角的正切值,即K=tanβs
D.橫波折射角的正弦值,即K=sinβs
A.晶片
B.阻尼塊
C.保護(hù)膜
D.隔聲層
A.反射波幅度大小
B.探頭移動(dòng)距離
C.反射波傳播時(shí)間
D.缺陷尺寸大小
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最新試題
各級(jí)物資(分)公司在上級(jí)物資部門的組織下,開展()階段的技術(shù)監(jiān)督工作。
輸變電螺栓進(jìn)行楔負(fù)載試驗(yàn),楔墊的角度有()
X射線管的靶材料的特征是()
采用手持式合金分析儀對(duì)電網(wǎng)材料進(jìn)行光譜分析的主要目的有()
DR檢測(cè)技術(shù)與常規(guī)射線檢測(cè)方法相比,其具有特點(diǎn)是()
科技部門不負(fù)責(zé)()專業(yè)的全過程技術(shù)監(jiān)督歸口管理工作。
在一般的工業(yè)探傷中,射線與物質(zhì)相互作用時(shí),主要產(chǎn)生的兩個(gè)效應(yīng)是()
螺母保證載荷試驗(yàn)的形式有()
隔離開關(guān)觸頭、觸指鍍銀層可以采用()檢測(cè)。
利用手持式X射線熒光光譜分析儀檢測(cè)時(shí),到達(dá)作業(yè)現(xiàn)場(chǎng)后,應(yīng)檢查被檢材料和環(huán)境是否存在影響分析結(jié)果的因素,如果有,必須清理干凈。以下屬于這些因素的有()