A.存在聲能集中區(qū) B.下盲區(qū)小 C.掃查時(shí),隔聲層應(yīng)盡量與缺陷方向垂直 D.以上都是
A.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生繞射 B.在尖銳的邊緣拐角發(fā)生反射 C.被尖銳的邊緣拐角吸收 D.以上都可能發(fā)生
A.被檢工件太厚 B.工件底面與探測(cè)面不平行 C.工件與試塊材質(zhì)或表面光潔度有差異 D.以上都是