A.膠片類型的選用規(guī)定
B.允許采用的透照厚度比的規(guī)定
C.X射線允許使用的最高透照管電壓的規(guī)定
D.底片黑度與像質(zhì)計(jì)靈敏度的規(guī)定
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A.采用B級(jí)射線檢測(cè)技術(shù)所要求的最小f值比A級(jí)大一倍
B.諾模圖中的有效焦點(diǎn)尺寸,當(dāng)焦點(diǎn)形狀為橢圓形時(shí)應(yīng)取長(zhǎng)徑
C.在黑度和靈敏度滿足要求的前提下,采用源在內(nèi)單壁透照方式,f值可以減小,但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的20%
D.在黑度和靈敏度滿足要求的前提下,采用源在內(nèi)中心透照方式f值可以減小,但減小值不應(yīng)超過(guò)規(guī)定值的50%
A.對(duì)X射線照相檢驗(yàn),當(dāng)透照電壓低于100kV時(shí),不允許使用增感屏
B.對(duì)Se-75源,AB級(jí)一般采用厚度為0.1~0.2mm的鉛屏
C.對(duì)Ir-192源,選擇增感屏厚度時(shí)應(yīng)考慮所采用的技術(shù)等級(jí)
D.對(duì)能量高于12MeV的X射線,應(yīng)不使用后增感屏
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最新試題
數(shù)字化探傷儀中的“采樣率”相當(dāng)于模擬式探傷儀中的()。
超聲波探頭發(fā)出的超聲波可視為球面波,示波屏上各次底面反射波的高度之比近似符合1:1/3:1/5。
端點(diǎn)峰值法測(cè)得的缺陷指示長(zhǎng)度比端點(diǎn)6dB 法測(cè)得的指示長(zhǎng)度要小一些。
若工件材質(zhì)衰減不考慮,則聲程為150mm 直徑為1mm 的球孔與聲程為300mm,直徑為4mm 的球孔回波幅度相差()。
雙晶直探頭的探測(cè)區(qū)為表面下的菱形區(qū),菱形區(qū)的中心離表面距離隨入射角增大而增大。