A.輸入脈沖幅度低于下閾
B.輸入脈沖幅度高于上閾
C.輸入脈沖幅度低于下閾且高于上閾
D.輸入脈沖幅度高于下閾且低于上閾
E.輸入脈沖幅度明顯低于下閾
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A.像素?cái)?shù)目
B.總計(jì)數(shù)
C.平均計(jì)數(shù)
D.放射性活度
E.最大計(jì)數(shù)
A.比活度
B.吸收劑量
C.放射性活度
D.半衰期
E.放射性濃度
A.樣品體積
B.樣品衰變常數(shù)
C.樣品顏色
D.樣品比活度
E.樣品溫度
A.閃爍探測(cè)器的計(jì)數(shù)率特性
B.閃爍探測(cè)器的能量分辨率
C.閃爍探測(cè)器的探測(cè)效率
D.閃爍探測(cè)器的能量線性
E.閃爍探測(cè)器的空間分辨率
A.分部積分法
B.迭代法
C.傅立葉變換法
D.最大似然一期望值最大化(MEML)
E.濾波反投影法
最新試題
關(guān)于SPECT的校正和質(zhì)控測(cè)試,正確的說法是()。
閃爍探測(cè)器中采用的閃爍體密度越高,則探測(cè)器的()。
放射性樣品的計(jì)數(shù)有一定的分布規(guī)律。當(dāng)平均計(jì)數(shù)大于20時(shí),下列何種分布適用()。
SPECT對(duì)哪些方面的要求高于常規(guī)γ照相機(jī)()。
SPECT斷層均勻性測(cè)試的頻度為()。
γ照相機(jī)準(zhǔn)直器的靈敏度高說明()。
固體閃爍探測(cè)器中,NaI(Tl)晶體的作用是()。
具有相同的質(zhì)量數(shù)和原子序數(shù),但核能態(tài)不同的一類核素稱為()。
外層軌道電子向內(nèi)層移動(dòng)時(shí)放出的能量傳給一個(gè)軌道電子,使該電子帶著動(dòng)能離開原子。該電子被稱為()。
在測(cè)量放射性樣品的計(jì)數(shù)時(shí),測(cè)量結(jié)果圍繞平均值的變化稱為()。