DMA測試常見的兩種掃描測試方式為（）。

對(duì)第二相的形狀、大小以及成分進(jìn)行分析的復(fù)型方法是（）。

透射式高能電子衍射只適用于對(duì)薄層樣品的分析的原因在于與X射線相比，電子穿透能力差。

光學(xué)顯微鏡的放大及分辨作用主要由下列（）來擔(dān)當(dāng)，其優(yōu)劣直接決定了顯微鏡的主要光學(xué)性能。

不存在位錯(cuò)、第二相粒子等缺陷的晶體，稱為理想晶體或者是完整晶體。

與電子探針相比，離子探針的分析深度更深。

受力流動(dòng)成型和自由流動(dòng)成型方式均是在物料流動(dòng)狀態(tài)下進(jìn)行，區(qū)別在于有無外力作用。

盛放被測試樣品的坩堝應(yīng)保證可以與樣品進(jìn)行反應(yīng)。

微觀形貌分析主要借助各種顯微技術(shù)來認(rèn)識(shí)材料的微觀結(jié)構(gòu)。

熱塑性聚合物的熔點(diǎn)在DSC曲線的（）部位。