單項(xiàng)選擇題

測(cè)量介損tgδ和測(cè)量絕緣電阻一樣，試品的表面泄漏對(duì)測(cè)量結(jié)果有一定影響，并且（）。

A.試品電容量較大，影響較小
B.試品電容量較大，影響較大
C.與試品電容量無(wú)關(guān)

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