單項(xiàng)選擇題測(cè)量介損tgδ和測(cè)量絕緣電阻一樣,試品的表面泄漏對(duì)測(cè)量結(jié)果有一定影響,并且()。

A.試品電容量較大,影響較小
B.試品電容量較大,影響較大
C.與試品電容量無(wú)關(guān)


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在GIS母線(xiàn)較長(zhǎng)并且有多路進(jìn)出線(xiàn)的情況下,不能分段測(cè)量主回路電阻,以保證完整性。

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