判斷題復(fù)合碼是擾碼與擴(kuò)頻碼的乘積,復(fù)合碼長(zhǎng)度為32chips。
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最新試題
小區(qū)下行時(shí)隙的負(fù)荷狀態(tài)是由NodeB在該下行時(shí)隙中的()來(lái)衡量的。
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