A.更換新燈
B.清洗并擦干凈儀器外光路
C.清洗毛細(xì)管
D.清洗霧室
E.重新制備溶液
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你可能感興趣的試題
A.試樣在稱樣前需在105℃±2℃下干燥1h
B.溶樣過程中應(yīng)嚴(yán)格注意樣品周圍環(huán)境,嚴(yán)禁面對試樣打噴嚏等可能引入待測元素的不必要操作
C.使用聚四氟乙烯材料的塑料瓶
D.使用氫氟酸揮硅時(shí),一定要加熱至足夠干
E.測量酸度一致
A.外光路
B.蠕動(dòng)泵
C.抽風(fēng)裝置
D.冷卻水
E.工作臺(tái)面
A.繼續(xù)吸噴清水溶液
B.關(guān)閉通風(fēng)櫥
C.關(guān)閉冷卻水
D.關(guān)閉蠕動(dòng)泵
E.整理臺(tái)面
A.泵速
B.霧化氣流量
C.RF功率
D.采樣深度
E.炬管準(zhǔn)直
A.進(jìn)樣效率改變
B.離子化效率改變
C.空間電荷效應(yīng)
D.鹽分沉積
E.波長漂移
最新試題
直讀光譜分析中檢查激發(fā)放電斑點(diǎn),凝聚放電是好的,擴(kuò)散放電是不好的。
氧氮分析儀中稀土氧化銅的作用是將一氧化碳氧化為二氧化碳。
紅外碳硫儀中的紅外檢測池具有單一性,各紅外池間不可互相代用。
高頻感應(yīng)紅外線吸收法測定鎢鐵中碳硫含量,氧氣源發(fā)生改變時(shí),應(yīng)重新對工作曲線進(jìn)行校正。
ICP-AES分析中的化學(xué)干擾,比起火焰原子吸收光譜或火焰原子發(fā)射光譜分析要輕微得多,因此化學(xué)干擾在ICP發(fā)射光譜分析中可以常常忽略不計(jì)。
ICPMS微波消解溶樣時(shí)開啟微波消解罐時(shí)應(yīng)戴好手套和防護(hù)眼鏡。
直讀光譜分析的品種只能是鐵基的金屬塊狀樣品。
碳硫分析儀器短期或長期不使用時(shí),應(yīng)間隔一段時(shí)間,開一次機(jī)。
紅外碳硫儀中的二氧化碳紅外池可以用于對二氧化硫的檢測。
從ICP-AES干擾原理出發(fā),使用標(biāo)準(zhǔn)加入法可以有效地消除光譜干擾。