A.水平線性、垂直線性、衰減器精度
B.動(dòng)態(tài)范圍、頻帶寬度、探測(cè)深度
C.垂直極限、水平極限、重復(fù)頻率
D.靈敏度余量、盲區(qū)、遠(yuǎn)場(chǎng)分辨力
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A.清洗器
B.聲透鏡
C.斜楔
D.延遲塊
A.愈大
B.愈小
C.不變
D.不一定
A.平面波
B.球面波
C.柱面波
D.活塞波
A.聲速相同
B.尺寸相同
C.是固體
D.一個(gè)是液體一個(gè)是固體
A.鋼/空氣
B.鋼/水
C.鋼/鎢
D.鋼/銅
最新試題
當(dāng)工件內(nèi)應(yīng)力與波的傳播方向一致時(shí),若應(yīng)力為壓縮應(yīng)力,則應(yīng)力作用會(huì)使工件彈性增加,導(dǎo)致聲速減慢。
水浸聚焦探頭是由外殼、阻尼塊、晶片、聲透鏡等組成。
缺陷垂直時(shí),擴(kuò)散波束入射至缺陷時(shí)回波較高,而定位時(shí)就會(huì)誤認(rèn)為缺陷在軸線上,從而導(dǎo)致定位不準(zhǔn)。
衍射時(shí)差法對(duì)缺陷檢出率高,超聲波束覆蓋區(qū)域大,缺陷高度測(cè)量精確,實(shí)時(shí)成像,快速分析。
橫波檢測(cè)平板對(duì)接焊縫根部未焊透等缺陷時(shí),不同K值探頭檢測(cè)同一根部缺陷,其回波高相差不大。
無論聲波相對(duì)于缺陷是垂直入射還是斜入射,缺陷大小不同其反射波的指向性有相當(dāng)大的差異。
動(dòng)態(tài)范圍的最小信號(hào)可能受到放大器的飽合或系統(tǒng)噪聲的限制。
缺陷相對(duì)反射率即缺陷反射聲壓與基準(zhǔn)反射體聲壓之比。
在檢測(cè)晶粒粗大和大型工件時(shí),應(yīng)測(cè)定材料的衰減系數(shù),計(jì)算時(shí)應(yīng)考慮介質(zhì)衰減的影響。
經(jīng)變形橫波轉(zhuǎn)換后探頭接收到的回波滯后于單純縱波傳播至底返面的回波,滯后時(shí)間與變形橫波橫穿工件厚度的次數(shù)成反比。