透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過(guò)調(diào)節(jié)（）的位置來(lái)實(shí)現(xiàn)的。

晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

掃描電鏡的背散射電子像中，圖像上亮區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)（）暗區(qū)對(duì)應(yīng)區(qū)域的原子序數(shù)。

拉曼光譜分析時(shí)，1500cm-1以上的譜帶必定是一個(gè)基團(tuán)的頻率，解釋通常是可靠的，一般可以確信其推論。

1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

X射線衍射儀中，通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖，常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為（）。

被樣品原子核反彈回來(lái)的入射電子稱(chēng)為非彈性背散射電子，能量基本上沒(méi)有損失。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

差熱分析中，若試樣沒(méi)有熱效應(yīng)時(shí)，記錄儀所記錄的ΔT曲線，為水平直線，稱(chēng)為（）。

在紅外光譜分析中，基本振動(dòng)區(qū)是指（）。