A.樣點(diǎn)直徑以2~4mm為宜 B.點(diǎn)間距離為2~3cm C.點(diǎn)樣基線距離底邊2.0cm D.點(diǎn)樣時(shí)切勿損傷薄層板表面 E.點(diǎn)間距離可視斑點(diǎn)擴(kuò)散情況以不影響檢出為宜
A.峰面積 B.保留時(shí)間 C.保留體積 D.峰寬 E.死時(shí)間
A.電子捕獲檢測(cè)器 B.紫外檢測(cè)器 C.蒸發(fā)光散射檢測(cè)器 D.熒光檢測(cè)器 E.光二極管陣列檢測(cè)器