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雖然()是一種最簡(jiǎn)便的鍍層測(cè)厚法,但是其測(cè)量準(zhǔn)確度低、儀器簡(jiǎn)單,所以只能進(jìn)行粗略測(cè)定厚度。
A.點(diǎn)滴法
B.金相顯微鏡法
C.磁性法
D.X射線熒光法
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單項(xiàng)選擇題
鍍層的厚度檢驗(yàn)中,()測(cè)厚是一種快速、高精度的非破壞性測(cè)厚方法。
A.點(diǎn)滴法
B.金相顯微鏡法
C.磁性法
D.X射線熒光法
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單項(xiàng)選擇題
鍍層缺陷類型中()是指鍍層表面局部亮度不一或色澤不均的缺陷。
A.斑點(diǎn)
B.毛刺
C.陰陽(yáng)面
D.麻點(diǎn)
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