A、Y軸衰減過大或過小 B、掃描周期過長或過短 C、上下位移調(diào)節(jié)不當(dāng) D、觸發(fā)掃描旋轉(zhuǎn)位置不當(dāng)
A、SRAM有極高的讀寫速度及大容量 B、DRAM有極高的讀寫速度及大容量 C、SRAM有極高的讀寫速度,DRAM有更大的容量 D、DRAM有極高的讀寫速度,SRAM有更大的容量