儀器及反光鏡的對(duì)中偏差均不應(yīng)大于（）。

精密經(jīng)緯儀光學(xué)部件上出現(xiàn)線紋斑，則說(shuō)明光學(xué)部件有（）現(xiàn)象。

設(shè)A點(diǎn)高程1279.25m，B點(diǎn)上安置經(jīng)緯儀，儀器高為1.43m，平距DAB=341.23m，觀測(cè)A點(diǎn)上覘標(biāo)高為4.0m的目標(biāo)得豎直角為-13°19′00″，則由此算得B點(diǎn)的高程為（）

偽距測(cè)量缺點(diǎn)有時(shí)間不宜測(cè)準(zhǔn)和（）

度盤(pán)刻劃誤差，可以按照（）變換水平度盤(pán)位置削弱該誤差影響。