X射線檢驗人員負責對需排除的超標缺陷實施定位、做好相應標注，確保定位準確。

提出有效磁導率的是下列哪位科學家（）

觀察底片時，為能識別缺陷圖像，缺陷圖像對比度與圖像噪聲之比應不小于識別閾值。

為了提高射線照相對比度，可以采用高電壓、短時間、大管電流的方式曝光。

送檢產(chǎn)品工序狀態(tài)及表面質(zhì)量應符合工藝規(guī)程或工藝處理意見的要求，經(jīng)表面檢驗合格，申請單無需檢驗蓋章確認。

增加工藝性透視有利于保證焊接質(zhì)量，因此盡可能增加工藝性透視次數(shù)。

補焊次數(shù)的界定由工藝、檢驗負責，對兩個補焊區(qū)交界部位補焊次數(shù)的界定，需要通過底片觀察提供幫助時，X光室應予以配合。

缺陷分類應符合驗收標準的要求，標準未作規(guī)定的缺陷或不屬于X射線照相檢驗范疇的缺陷，必要時可予以注明供有關人員參考，但不作為合格與否判定的依據(jù)。

下面列出的確定透照布置應考慮的基本內(nèi)容中，錯誤的是（）。

射線檢測最有害的危險源是（），必須嚴加控制。