A.金屬細(xì)絲
B.鋼絲繩
C.方坯內(nèi)部
D.板材表面
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A.混合式
B.穿過式
C.旋轉(zhuǎn)式
D.掃描式
A.增加激勵(lì)磁場的變化
B.阻礙激勵(lì)磁場變化
C.與激勵(lì)磁場變化無關(guān)
D.與激勵(lì)場強(qiáng)絕對(duì)值有關(guān)
A.感應(yīng)出
B.反射出
C.擴(kuò)散出
D.激發(fā)出
A.全不能采用
B.全能采用
C.某一種能采用
D.有兩種能采用
A.常溫(-10~+40℃)
B.高溫(+800~1200℃)
C.中溫(+100~800℃)
D.以上均可
最新試題
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請(qǐng)、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測。
對(duì)焊接接頭穩(wěn)定時(shí)間有規(guī)定的產(chǎn)品,工藝規(guī)程應(yīng)作出規(guī)定,檢驗(yàn)監(jiān)控確認(rèn),檢驗(yàn)蓋章時(shí)穩(wěn)定時(shí)間不足者應(yīng)在申請(qǐng)單注明穩(wěn)定時(shí)間節(jié)點(diǎn),否則X光室視為穩(wěn)定時(shí)間符合要求。
在射線照相檢驗(yàn)中,隨著射線能量的提高,得到的圖像不清晰度也將增大。
二次打底焊接或重熔排除,無需辦理相關(guān)手續(xù),直接使用前次的申請(qǐng)手續(xù)。
底片圖像質(zhì)量參數(shù)中的顆粒度與膠片的粒度是同一概念。
X射線檢測圖像直觀、缺陷定性準(zhǔn)確,因此焊接缺陷無論大小和延伸方向都可以選擇X射線檢測。
對(duì)于厚度變化較大的變截面工件透照,只要底片黑度符合GJB1187A的要求時(shí),就可采用多膠片技術(shù)。
為了提高射線照相對(duì)比度,可以采用高電壓、短時(shí)間、大管電流的方式曝光。
對(duì)含有內(nèi)穿過式線圈的薄壁管,影響其阻抗變化的因素有()
檢測申請(qǐng)時(shí)工序狀態(tài)應(yīng)清楚、工序質(zhì)量應(yīng)符合工序質(zhì)量要求,檢驗(yàn)蓋章確認(rèn),確保焊接、檢驗(yàn)、檢測等全過程具有可追溯性。