對(duì)于相干檢測(cè)方法，（）干涉條紋的間距，有利于提高信號(hào)檢測(cè)的對(duì)比度和增大交變分量的幅值。

以下不屬于光纖干涉儀的有（）。

計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)檢測(cè)方法的關(guān)注點(diǎn)是（）。

電光效應(yīng)反映介質(zhì)折射率與電場(chǎng)強(qiáng)度可能呈（）。

具有恒流源型伏安特性的光電檢測(cè)器件包括（）。

CMOS的字母C的英文單詞是（）。

視角分辨率的單位通常為（）。

下列應(yīng)用屬于光度測(cè)量方法應(yīng)用的是（）。

成像測(cè)量法存在的問(wèn)題，是當(dāng)物體沿景深方向移動(dòng)時(shí)，會(huì)造成放大倍率的變化，這會(huì)（）測(cè)量精度。因此，需要解決自動(dòng)調(diào)焦的問(wèn)題。

下列含有CCD圖像器件的是（）。