A.標(biāo)準(zhǔn)芯樣試件的數(shù)量不應(yīng)少于5個(gè)。
B.芯樣應(yīng)從間接檢測(cè)方法的結(jié)構(gòu)構(gòu)件中隨即抽取。
C.當(dāng)采用的間接檢測(cè)方法為無(wú)損檢測(cè)方法時(shí),鉆芯位置應(yīng)與間接檢測(cè)方法相應(yīng)的測(cè)區(qū)重合。
D.當(dāng)采用的間接檢測(cè)方法對(duì)結(jié)構(gòu)構(gòu)件有損傷時(shí),鉆芯位置應(yīng)布置在相應(yīng)測(cè)區(qū)的附近。