A.傳送能力測(cè)試 B.凈負(fù)荷指針測(cè)試 C.嵌入開銷測(cè)試 D.線路接口測(cè)試
A、級(jí)聯(lián)方式有相鄰級(jí)聯(lián)和虛級(jí)聯(lián)兩種; B、級(jí)聯(lián)后的所有AU-4指針值都應(yīng)相同; C、虛級(jí)聯(lián)只能在同一個(gè)STM-N信號(hào)中應(yīng)用; D、若Xc等于16,則相鄰級(jí)聯(lián)方式中高階通道誤碼檢測(cè)字節(jié)B3只有1個(gè)
A、在1:N線路保護(hù)倒換結(jié)構(gòu)中,N的取值范圍為1~14; B、復(fù)用段保護(hù)環(huán)都需要APS協(xié)議; C、對(duì)于有K個(gè)節(jié)點(diǎn)的2纖雙向復(fù)用段倒換壞,其最大業(yè)務(wù)容量為K/2*STM-N; D、組成自愈環(huán)的SDH網(wǎng)元設(shè)備包括ADM、TM和DXC設(shè)備