電子在物質(zhì)中通過(guò)單位長(zhǎng)度路徑，由于軔致輻射而損失的能量為輻射損失率。
探測(cè)器記錄到的射線數(shù)與入射到探測(cè)器靈敏體積內(nèi)的γ光子數(shù)的比。
當(dāng)r射線在NaI（Tl）晶體表面發(fā)生光電效應(yīng)時(shí)，碘的KaX射線很容易逃逸出晶體，形成一個(gè)碘逃逸峰。（28.61KeV）
