電子在物質(zhì)中通過單位長度路徑，由于軔致輻射而損失的能量為輻射損失率。
探測器記錄到的射線數(shù)與入射到探測器靈敏體積內(nèi)的γ光子數(shù)的比。
當r射線在NaI（Tl）晶體表面發(fā)生光電效應(yīng)時，碘的KaX射線很容易逃逸出晶體，形成一個碘逃逸峰。（28.61KeV）
