你可能感興趣的試題

使用對(duì)比試塊的主要目的是（）。

A.作為探測(cè)時(shí)的校準(zhǔn)基準(zhǔn)，并為評(píng)價(jià)工件中缺陷的嚴(yán)重程度提供依據(jù)
B.為探傷人員提供一種確定的缺陷實(shí)際尺寸的工具
C.為檢出小于某一規(guī)定的參考反射體的所有缺陷提供保證
D.提供一個(gè)能精確模擬某一臨界尺寸自然缺陷的參考反射體

單項(xiàng)選擇題

下面有關(guān)鋼管水浸探傷的敘述中（）是錯(cuò)誤的。

A.使用水浸式縱波探頭
B.探頭偏離管材中心線
C.無(wú)缺陷時(shí)，熒光屏上只顯示始波和1～2次底波
D.水層距離應(yīng)大于鋼中一次波聲程的1/2

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直探頭探傷，反射體距離小于三倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度時(shí)，校準(zhǔn)探測(cè)靈敏度應(yīng)采用（）。

你可能感興趣的試題

使用對(duì)比試塊的主要目的是（）。

下面有關(guān)鋼管水浸探傷的敘述中（）是錯(cuò)誤的。

直探頭探傷，反射體距離小于三倍近場(chǎng)區(qū)長(zhǎng)度時(shí)，校準(zhǔn)探測(cè)靈敏度應(yīng)采用（）。

使用對(duì)比試塊的主要目的是（）。