填空題JB/T4730標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定,關(guān)于磁粉檢測在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在多種缺陷時,應(yīng)進(jìn)行()評級。
您可能感興趣的試卷

最新試題
提出有效磁導(dǎo)率的是下列哪位科學(xué)家()
題型:單項(xiàng)選擇題
X光檢驗(yàn)組按復(fù)查清單組織復(fù)查,并出具X光底片復(fù)查報告,復(fù)查無遺留問題方可進(jìn)行試壓。
題型:判斷題
一次完整的補(bǔ)焊過程中缺陷是否排除X光透照確認(rèn)可以不限次數(shù),直至缺陷完全排除。
題型:判斷題
超差缺陷是否排除,由缺陷挖排人員挖排后直接提出申請、檢驗(yàn)蓋章認(rèn)可后送X光檢測。
題型:判斷題
X射線檢驗(yàn)人員負(fù)責(zé)對需排除的超標(biāo)缺陷實(shí)施定位、做好相應(yīng)標(biāo)注,確保定位準(zhǔn)確。
題型:判斷題