A、i
B、★
C、○
D、C
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A、i
B、★
C、○
D、C
A.哈氏無機(jī)數(shù)值索引;
B.芬克無機(jī)數(shù)值索引;
C.戴維無機(jī)字母索引;
D.A或B。
A.外標(biāo)法;
B.內(nèi)標(biāo)法;
C.直接比較法;
D.K值法。
A、正比計(jì)數(shù)器
B、蓋革計(jì)數(shù)器
C、閃爍計(jì)數(shù)器
D、鋰漂移硅檢測(cè)器
A、正比計(jì)數(shù)器
B、蓋革計(jì)數(shù)器
C、閃爍計(jì)數(shù)器
D、A和B
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最新試題
紅外光分為()。
熱分析技術(shù)中,試樣用量越多,熱效應(yīng)大,內(nèi)部傳熱慢,溫度梯度大,導(dǎo)致峰形擴(kuò)大,峰頂溫度滯后,容易使相鄰峰重疊,降低分辨率。
X射線衍射儀中,通常用于測(cè)定2θ范圍不大的一段衍射圖,常用于精確測(cè)定衍射峰的積分強(qiáng)度和位置的掃描方式為()。
透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)()的位置來實(shí)現(xiàn)的。
掃描隧道顯微鏡能用于觀察導(dǎo)體、半導(dǎo)體和絕緣體材料的表面結(jié)構(gòu)。
每種晶體物質(zhì)都有自己特定的晶體結(jié)構(gòu),晶體結(jié)構(gòu)不同則X射線衍射花樣也就各不相同。
利用電子探針的波譜儀,一個(gè)分光晶體能夠覆蓋的波長(zhǎng)范圍有限的,因此一個(gè)分光晶體只能檢測(cè)一定原子序數(shù)范圍的元素。
熱分析中,不同性質(zhì)的氣氛對(duì)測(cè)試結(jié)果沒有影響。
關(guān)于stokes線和anti-Stokes線,說法正確的是()。
利用電子探針對(duì)材料微區(qū)成分進(jìn)行面分析,包含幾種元素就顯示幾種元素的分布圖像。