可采用紅外光譜測(cè)試,觀察是否有共軛雙鍵生成;可采用紫外光譜測(cè)定,以確定是否有共軛雙鍵生成,以及一些共軛雙鍵長(zhǎng)度的信息
因?yàn)樽贤夤庾V的能級(jí)差比紅外光譜大很多,好儀器外界因素對(duì)測(cè)試的干擾相對(duì)很小。