晶體的X射線衍射方向反映了晶胞的（）。

掃描電鏡的二次電子像中，樣品表面的深凹槽底部產(chǎn)生較多二次電子，在熒光屏上這些部位的亮度較大。

孔徑半角越小，衍射效應所決定的電磁透鏡的分辨率越高。

電子探針和X射線衍射儀一樣，都可以直接確定材料中所包含的物相。

透射電鏡的成像操作和電子衍射操作是通過調(diào)節(jié)（）的位置來實現(xiàn)的。