1887年，Hertz建立了XPS技術(shù)的理論模型。

在電子探針面分析中，根據(jù)圖像上亮點(diǎn)的疏密和分布，可確定該元素在試樣中分布情況，亮區(qū)代表元素含量（）。

與光鏡呈像相比，掃描電鏡圖像立體感強(qiáng)，形態(tài)逼真，這是由于掃描電鏡的（）比光鏡大100-500倍。

根據(jù)衍襯運(yùn)動(dòng)學(xué)原理，理想晶體衍射強(qiáng)度隨（）而變化。

熱分析中對樣品的重量沒有要求，只要樣品尺寸能放進(jìn)坩堝內(nèi)，就可以獲得良好的測試結(jié)果。